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觸摸屏控制IC卡動態(tài)彎曲雙扭試驗機功能介紹

點擊次數(shù):387 更新時間:2024-11-08

觸摸屏控制IC卡動態(tài)彎曲雙扭試驗機產(chǎn)品用途:用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

觸摸屏控制IC卡動態(tài)彎曲雙扭試驗機本產(chǎn)品適用于軌道交通卡、銀行磁卡、醫(yī)???、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會員卡等系列磁卡的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗,主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測部門、實驗室等磁卡的物理力學(xué)性能、工藝性能的測試和分板研究,深受廣大用戶青睞。

滿足標準:

該IC卡動態(tài)彎扭試驗機主要用于測試IC卡的彎曲、扭矩試驗,符合國標GB/T 16649.1《識別卡 帶觸點的集成電路卡 第1部分:物理特性》,國標GB/T-17554.1-2006《識別卡 測試方法 第1部分:一般特性測試》及ISO10373和ISO7816-1998等試驗標準。

白底圖.jpg

主圖1.jpg

主圖4.jpg

觸摸屏控制IC卡動態(tài)彎曲雙扭試驗機技術(shù)參數(shù):

1.測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

2.測試周期:1~9999次

3.扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm

4.正反向各15°,總扭曲角度30°

5.長邊位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

6.長邊位移量為2mm±0.50mm,

7.短邊位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

8.長邊位移量為1mm±0.50mm,

9.夾具安裝尺寸按照國家標準執(zhí)行。

10.外形尺寸:780×420×220mm

11.儀器重量:約70kg



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